Eintrag weiter verarbeiten
Buchumschlag von Defect-engineered (Ti,Al)N thin films
Verfügbar über Open Access

Defect-engineered (Ti,Al)N thin films

Gespeichert in:

Personen und Körperschaften: Schramm Benítez, Isabella Citlalli (VerfasserIn), Mücklich, Frank (AkademischeR BetreuerIn)
Titel: Defect-engineered (Ti,Al)N thin films/ von Isabella Citlalli Schramm Benítez ; Berichterstatter: Prof. Dr.-Ing. Frank Mücklich, Prof. Dr. Magnus Odén, Priv.-Doz. Dr. Sven Ulrich
Hochschulschriftenvermerk: Dissertation, Universität des Saarlandes, 2017
Medientyp: E-Book Hochschulschrift
Sprache: Englisch
veröffentlicht:
Saarbrücken 2017
Schlagwörter:
Erscheint auch als: Schramm Benítez, Isabella Citlalli, Defect-engineered (Ti,Al)N thin films, Saarbrücken, 2017, XXVI, 137 Seiten
Quelle: Verbunddaten SWB
Lizenzfreie Online-Ressourcen