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Buchumschlag von Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies: Origin, Characterization, Control, and Device Impact
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Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies: Origin, Characterization, Control, and Device Impact

Gespeichert in:

Personen und Körperschaften: Claeys, Cor (VerfasserIn), Simoen, Eddy (VerfasserIn)
Titel: Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies: Origin, Characterization, Control, and Device Impact/ by Cor Claeys, Eddy Simoen
Medientyp: E-Book
Sprache: Englisch
veröffentlicht:
Cham Springer International Publishing 2018

Gesamtaufnahme: Springer Series in Materials Science
Springer eBook Collection
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Schlagwörter:
Quelle: Verbunddaten SWB