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Buchumschlag von VLSI Design and Test: 22nd International Symposium, VDAT 2018, Madurai, India, June 28-30, 2018, Revised Selected Papers
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VLSI Design and Test: 22nd International Symposium, VDAT 2018, Madurai, India, June 28-30, 2018, Revised Selected Papers

Gespeichert in:

Personen und Körperschaften: Rajaram, S. (HerausgeberIn), Balamurugan, N.B. (HerausgeberIn), Gracia Nirmala Rani, D. (HerausgeberIn), Singh, Virendra (HerausgeberIn)
Titel: VLSI Design and Test: 22nd International Symposium, VDAT 2018, Madurai, India, June 28-30, 2018, Revised Selected Papers/ edited by S. Rajaram, N.B. Balamurugan, D. Gracia Nirmala Rani, Virendra Singh
Medientyp: E-Book
Sprache: Englisch
veröffentlicht:
Singapore Springer Singapore 2019

Gesamtaufnahme: Communications in Computer and Information Science
Springer eBook Collection
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Schlagwörter:
Quelle: Verbunddaten SWB