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Electromechanical resonances of SiC and AIN beams under ambient conditions
Gespeichert in:
Veröffentlicht in: | Maschinenbau von Makro bis Nano 2005, [04.P.01], insges. 2 S. |
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Personen und Körperschaften: | , , , , , , , |
Titel: | Electromechanical resonances of SiC and AIN beams under ambient conditions/ K. Brueckner; Ch. Förster; K. Tonisch; V. Cimalla; O. Ambacher; R. Stephan; K. Blau; M. A. Hein |
Medientyp: | E-Book-Kapitel |
Sprache: | Englisch |
veröffentlicht: |
2005
2011 |
Gesamtaufnahme: |
Maschinenbau von Makro bis Nano, 2005, [04.P.01], insges. 2 S.
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Quelle: | Verbunddaten SWB Lizenzfreie Online-Ressourcen |
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