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Oxygen-related minority-carrier trapping centers in p-type Czochralski silicon
Gespeichert in:
Zeitschriftentitel: | Applied Physics Letters |
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Personen und Körperschaften: | , , |
In: | Applied Physics Letters, 80, 2002, 23, S. 4395-4397 |
Medientyp: | E-Article |
Sprache: | Englisch |
veröffentlicht: |
AIP Publishing
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Schlagwörter: |