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Buchumschlag von Oxygen-related minority-carrier trapping centers in p-type Czochralski silicon
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Oxygen-related minority-carrier trapping centers in p-type Czochralski silicon

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Bibliographische Detailangaben
Zeitschriftentitel: Applied Physics Letters
Personen und Körperschaften: Schmidt, Jan, Bothe, Karsten, Hezel, Rudolf
In: Applied Physics Letters, 80, 2002, 23, S. 4395-4397
Medientyp: E-Article
Sprache: Englisch
veröffentlicht:
AIP Publishing
Schlagwörter: