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Buchumschlag von Stress current calculation of stacked dielectrics in time dependent dielectric breakdown
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Stress current calculation of stacked dielectrics in time dependent dielectric breakdown

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Bibliographische Detailangaben
Zeitschriftentitel: Journal of Applied Physics
Personen und Körperschaften: Yang, Wenwei, Cheng, Xinhong, Xing, Yumei, Li, Wenjun, Yu, Yuehui
In: Journal of Applied Physics, 94, 2003, 6, S. 4032-4035
Medientyp: E-Article
Sprache: Englisch
veröffentlicht:
AIP Publishing
Schlagwörter: