Reflection high-energy electron diffraction study of the GaAs:Si:GaAs system

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Bibliographische Detailangaben

Zeitschriftentitel:	Applied Physics Letters
Personen und Körperschaften:	Fahy, M. R., Ashwin, M. J., Harris, J. J., Newman, R. C., Joyce, B. A.
In:	Applied Physics Letters, 61, 1992, 15, S. 1805-1807
Medientyp:	E-Article
Sprache:	Englisch
veröffentlicht:	AIP Publishing
Schlagwörter:	Physics and Astronomy (miscellaneous)