Eintrag weiter verarbeiten
Buchumschlag von Properties of a dielectric probe for scanning near-field millimeter-wave microscopy
Verfügbar über Online-Ressource

Properties of a dielectric probe for scanning near-field millimeter-wave microscopy

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Zeitschriftentitel: Journal of Applied Physics
Personen und Körperschaften: Kume, Eiji, Sakai, Shigeki
In: Journal of Applied Physics, 99, 2006, 5
Medientyp: E-Article
Sprache: Englisch
veröffentlicht:
AIP Publishing
Schlagwörter: