Light-induced degradation in compensated p- and n-type Czochralski silicon wafers

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Bibliographische Detailangaben

Zeitschriftentitel:	Journal of Applied Physics
Personen und Körperschaften:	Geilker, Juliane, Kwapil, Wolfram, Rein, Stefan
In:	Journal of Applied Physics, 109, 2011, 5
Medientyp:	E-Article
Sprache:	Englisch
veröffentlicht:	AIP Publishing
Schlagwörter:	General Physics and Astronomy