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Buchumschlag von Optical determination of free-carrier concentration in epitaxial layers of n-type silicon grown on N+ or N− substrates
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Optical determination of free-carrier concentration in epitaxial layers of n-type silicon grown on N+ or N− substrates

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Bibliographische Detailangaben
Zeitschriftentitel: Journal of Applied Physics
Personen und Körperschaften: Geddo, M., Maghini, D., Stella, A., Cottini, M.
In: Journal of Applied Physics, 58, 1985, 12, S. 4733-4735
Medientyp: E-Article
Sprache: Englisch
veröffentlicht:
AIP Publishing
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