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Buchumschlag von Concentration of point defects in 4H-SiC characterized by a magnetic measurement
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Concentration of point defects in 4H-SiC characterized by a magnetic measurement

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Bibliographische Detailangaben
Zeitschriftentitel: AIP Advances
Personen und Körperschaften: Peng, B., Jia, R. X., Wang, Y. T., Dong, L. P., Hu, J. C., Zhang, Y. M.
In: AIP Advances, 6, 2016, 9
Medientyp: E-Article
Sprache: Englisch
veröffentlicht:
AIP Publishing
Schlagwörter: