Eintrag weiter verarbeiten
Concentration of point defects in 4H-SiC characterized by a magnetic measurement
Gespeichert in:
Zeitschriftentitel: | AIP Advances |
---|---|
Personen und Körperschaften: | , , , , , |
In: | AIP Advances, 6, 2016, 9 |
Medientyp: | E-Article |
Sprache: | Englisch |
veröffentlicht: |
AIP Publishing
|
Schlagwörter: |