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Buchumschlag von In situ analysis of lattice relaxation by reflection high-energy electron diffraction
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In situ analysis of lattice relaxation by reflection high-energy electron diffraction

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Bibliographische Detailangaben
Zeitschriftentitel: Journal of Physics D: Applied Physics
Personen und Körperschaften: Wei, X H, Li, Y R, Zhu, J, Zhang, Y, Liang, Z, Huang, W
In: Journal of Physics D: Applied Physics, 38, 2005, 23, S. 4222-4226
Medientyp: E-Article
Sprache: Unbestimmt
veröffentlicht:
IOP Publishing
Schlagwörter: