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Buchumschlag von Backside doping profiles of irradiated silicon detectors
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Backside doping profiles of irradiated silicon detectors

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Bibliographische Detailangaben
Zeitschriftentitel: Journal of Instrumentation
Personen und Körperschaften: Treberspurg, W, Bergauer, T, Dragicevic, M, Krammer, M, Valentan, M
In: Journal of Instrumentation, 8, 2013, 4, S. P04019-P04019
Medientyp: E-Article
Sprache: Unbestimmt
veröffentlicht:
IOP Publishing
Schlagwörter: