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Determination of the thickness and orientation of few-layer tungsten ditelluride using polarized Raman spectroscopy
Gespeichert in:
Zeitschriftentitel: | 2D Materials |
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Personen und Körperschaften: | , , , , , |
In: | 2D Materials, 3, 2016, 3, S. 034004 |
Medientyp: | E-Article |
Sprache: | Unbestimmt |
veröffentlicht: |
IOP Publishing
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Schlagwörter: |