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Buchumschlag von Determination of the thickness and orientation of few-layer tungsten ditelluride using polarized Raman spectroscopy
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Determination of the thickness and orientation of few-layer tungsten ditelluride using polarized Raman spectroscopy

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Bibliographische Detailangaben
Zeitschriftentitel: 2D Materials
Personen und Körperschaften: Kim, Minjung, Han, Songhee, Kim, Jung Hwa, Lee, Jae-Ung, Lee, Zonghoon, Cheong, Hyeonsik
In: 2D Materials, 3, 2016, 3, S. 034004
Medientyp: E-Article
Sprache: Unbestimmt
veröffentlicht:
IOP Publishing
Schlagwörter: