Eintrag weiter verarbeiten
Buchumschlag von Detection of CMOS Open Node Defects by Frequency Analysis
Verfügbar über Online-Ressource

Detection of CMOS Open Node Defects by Frequency Analysis

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Zeitschriftentitel: IEICE Transactions on Information and Systems
Personen und Körperschaften: MICHINISHI, H., YOKOHIRA, T., OKAMOTO, T., KOBAYASHI, T., HONDO, T.
In: IEICE Transactions on Information and Systems, E90-D, 2007, 3, S. 685-687
Medientyp: E-Article
Sprache: Englisch
veröffentlicht:
Institute of Electronics, Information and Communications Engineers (IEICE)
Schlagwörter: