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Detection of CMOS Open Node Defects by Frequency Analysis
Gespeichert in:
Zeitschriftentitel: | IEICE Transactions on Information and Systems |
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Personen und Körperschaften: | , , , , |
In: | IEICE Transactions on Information and Systems, E90-D, 2007, 3, S. 685-687 |
Medientyp: | E-Article |
Sprache: | Englisch |
veröffentlicht: |
Institute of Electronics, Information and Communications Engineers (IEICE)
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Schlagwörter: |