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In situ X-ray reflectivity measurement of thin film growth during vacuum deposition
Gespeichert in:
Zeitschriftentitel: | Applied Surface Science |
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Personen und Körperschaften: | , |
In: | Applied Surface Science, 92, 1996, S. 282-286 |
Medientyp: | E-Article |
Sprache: | Englisch |
veröffentlicht: |
Elsevier BV
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Schlagwörter: |