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Buchumschlag von Residual ion damage in GaAs:C prepared by combined ion beam and molecular beam epitaxy
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Residual ion damage in GaAs:C prepared by combined ion beam and molecular beam epitaxy

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Bibliographische Detailangaben
Zeitschriftentitel: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms
Personen und Körperschaften: Iida, Tsutomu, Makita, Yunosuke, Horn, Joachim, Hartnagel, Hans L., Shima, Takayuki, Kimura, Shinji, Shikama, Kazuyuki, Sanpei, Hirokazu, Sandhu, Adarsh, Kobayashi, Naoto, Uekusa, Shin-ichiro
In: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 127-128, 1997, S. 884-887
Medientyp: E-Article
Sprache: Englisch
veröffentlicht:
Elsevier BV
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