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Buchumschlag von Quantitative Subsurface Atomic Structure Fingerprint for 2D Materials and Heterostructures by First-Principles-Calibrated Contact-Resonance Atomic Force Microscopy
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Quantitative Subsurface Atomic Structure Fingerprint for 2D Materials and Heterostructures by First-Principles-Calibrated Contact-Resonance Atomic Force Microscopy

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Zeitschriftentitel: ACS Nano
Personen und Körperschaften: Tu, Qing, Lange, Björn, Parlak, Zehra, Lopes, Joao Marcelo J., Blum, Volker, Zauscher, Stefan
In: ACS Nano, 10, 2016, 7, S. 6491-6500
Medientyp: E-Article
Sprache: Englisch
veröffentlicht:
American Chemical Society (ACS)
Schlagwörter: