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Quantitative Subsurface Atomic Structure Fingerprint for 2D Materials and Heterostructures by First-Principles-Calibrated Contact-Resonance Atomic Force Microscopy
Gespeichert in:
Zeitschriftentitel: | ACS Nano |
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Personen und Körperschaften: | , , , , , |
In: | ACS Nano, 10, 2016, 7, S. 6491-6500 |
Medientyp: | E-Article |
Sprache: | Englisch |
veröffentlicht: |
American Chemical Society (ACS)
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Schlagwörter: |