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Buchumschlag von Interface Segregation and Clustering in Strained-Layer InGaAs/GaAs Heterostructures Studied by Cross-Sectional Scanning Tunneling Microscopy
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Interface Segregation and Clustering in Strained-Layer InGaAs/GaAs Heterostructures Studied by Cross-Sectional Scanning Tunneling Microscopy

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Bibliographische Detailangaben
Zeitschriftentitel: Physical Review Letters
Personen und Körperschaften: Zheng, J. F., Walker, J. D., Salmeron, M. B., Weber, E. R.
In: Physical Review Letters, 73, 1994, 2, S. 368-368
Medientyp: E-Article
Sprache: Englisch
veröffentlicht:
American Physical Society (APS)
Schlagwörter: