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Interface Segregation and Clustering in Strained-Layer InGaAs/GaAs Heterostructures Studied by Cross-Sectional Scanning Tunneling Microscopy
Gespeichert in:
Zeitschriftentitel: | Physical Review Letters |
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Personen und Körperschaften: | , , , |
In: | Physical Review Letters, 73, 1994, 2, S. 368-368 |
Medientyp: | E-Article |
Sprache: | Englisch |
veröffentlicht: |
American Physical Society (APS)
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Schlagwörter: |