Planungsbasierte Oberflächeninspektion in der Deflektometrie mittels Greedy-Optimierung

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Bibliographische Detailangaben

Zeitschriftentitel:	tm - Technisches Messen
Personen und Körperschaften:	Roschani, Masoud, Beyerer, Jürgen
In:	tm - Technisches Messen, 80, 2013, 6, S. 189-195
Medientyp:	E-Article
Sprache:	Englisch
veröffentlicht:	Walter de Gruyter GmbH
Schlagwörter:	Electrical and Electronic Engineering Instrumentation