Force Modulation Nanometer Recording Using an Atomic Force Microscope Tip.

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Bibliographische Detailangaben

Zeitschriftentitel:	SHINKU
Personen und Körperschaften:	KOYANAGI, Hajime, HOSAKA, Sumio, NAKAMURA, Kimio, KIKUKAWA, Atsushi, ETOH, Kimitoshi, MIYAMOTO, Mitsuhide
In:	SHINKU, 40, 1997, 10, S. 767-772
Medientyp:	E-Article
Sprache:	Unbestimmt
veröffentlicht:	The Vacuum Society of Japan
Schlagwörter:	Electrical and Electronic Engineering Surfaces, Coatings and Films Condensed Matter Physics