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Buchumschlag von Improved Microwave Absorption Technique for Bulk and Surface Lifetime Analysis in Processed Si Wafers
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Improved Microwave Absorption Technique for Bulk and Surface Lifetime Analysis in Processed Si Wafers

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Zeitschriftentitel: Solid State Phenomena
Personen und Körperschaften: Gaubas, Eugenijus, Simoen, Eddy, Claeys, Cor, Poyai, A.
In: Solid State Phenomena, 69-70, 1999, S. 155-160
Medientyp: E-Article
Sprache: Unbestimmt
veröffentlicht:
Trans Tech Publications, Ltd.
Schlagwörter: