Effects of Postannealing on the Characteristics and Reliability of Polyfluorene Organic Light-Emitting Diodes

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In: IEEE Transactions on Electron Devices, 66(2019), 2, S. 1057 - 1062
Format: E-Article
Sprache: Englisch
veröffentlicht: IEEE
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ISSN: 0018-9383
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